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光芯片AOI檢測需借助高分辨率自動對焦光學系統(tǒng)，捕捉芯片表面形貌，再結合圖像處理技術自動識別缺陷，如劃痕、污染、結構偏差，和尺寸誤差等。該檢測方式的核心在于高速、非接觸式的精準檢測，通過高分辨率光學鏡頭捕捉光芯片表面的微觀形貌，結合特定波長光源增強缺陷對比度，實時動態(tài)對焦，確保不同位置、角度的芯片表面均能清晰成像。 通過高分辨率光學鏡頭捕捉光芯片表面的微觀形貌，結合特定波長光源增強缺陷對比度，實時動態(tài)對焦，確保不同位置、角度的芯片表面均能清晰成像。 相機：工業(yè)相機 傳感器：慕藤光660nm線激光對焦傳感器MALF-7V 物鏡：20倍物鏡：MA-10F 圖：自動對焦光學系統(tǒng) 圖：慕藤光大視場光學系統(tǒng)成像解決方案-光芯片檢測效果圖 一次性完成多芯端面所有光纖的檢測，包括自動對焦、居中、曝光和測量，單次檢測速度≤5秒。 針對光纖端面檢測設備的光學系統(tǒng)倍率高，鏡頭景深小、夾具精度不一致導致光纖端面與光軸不垂直，進一步加劇離焦、成像困難；采用慕藤光大視場對焦光學系統(tǒng)，通過激光測距對焦法，實現(xiàn)自動對焦的動態(tài)補償、實時測量，確保所有檢測樣品均在獲得清晰成像。 相機：大靶面工業(yè)相機 傳感器：慕藤光660nm線激光對焦傳感MALF-7V 鏡管：大視場鏡管MT-M44-S 物鏡：10倍物鏡 圖：慕藤光大視場自動對焦光學系統(tǒng) 圖：光纖端面外觀檢測合格VS不合格 圖：多芯光纖端面外觀檢測合格VS不合格 在5G與AI主導的時代浪潮下，光芯片與光纖的品質，成為決定數(shù)據(jù)傳輸速率與穩(wěn)定性的核心要素。慕藤光憑借其自主研發(fā)的智能光學檢測系統(tǒng)，實現(xiàn)了對光芯片AOI檢測、光纖端面的細微缺陷的快速精準識別，有力推動了生產(chǎn)效率與產(chǎn)品可靠性的提升。隨著數(shù)據(jù)傳輸需求的爆發(fā)式增長，慕藤光將持續(xù)深耕檢測技術，深度融合AI智能分析，致力于為光通信行業(yè)提供更高效、智能的解決方案，為全球算力網(wǎng)絡的高速、穩(wěn)定運行注入強勁動力。
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